The structure of Mg or Ca silicides and Ge nanoparticles on the surface of a-Si:H thin film
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985858%3A_____%2F16%3A00480295" target="_blank" >RIV/67985858:_____/16:00480295 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68378271:_____/16:00480295
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The structure of Mg or Ca silicides and Ge nanoparticles on the surface of a-Si:H thin film
Popis výsledku v původním jazyce
The aim of our work is to reveal the mechanism of different semiconductor nanoparticles (NPs) forming on the surface of the Hydrogenated Silicon (Si:H) thin films. Glass and glass covered by Indium Tin Oxide (ITO) were used as substrates for the thin Amorphous layer (a-Si:H) deposited by the Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition (PECVD). The self-forming of silicides NPs was expected during evaporation of Magnesium and Calcium on the heated a-Si:H surface. Germanium we deposited by Molecular Beam Epitaxy (MBE). The NPs self - forming was investigated by Scanning Electron Microscope (SEM), High Resolution Transmission Electron Microscope (HRTEM), Atomic Force Microscope (AFM) and Raman spectroscopy
Název v anglickém jazyce
The structure of Mg or Ca silicides and Ge nanoparticles on the surface of a-Si:H thin film
Popis výsledku anglicky
The aim of our work is to reveal the mechanism of different semiconductor nanoparticles (NPs) forming on the surface of the Hydrogenated Silicon (Si:H) thin films. Glass and glass covered by Indium Tin Oxide (ITO) were used as substrates for the thin Amorphous layer (a-Si:H) deposited by the Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition (PECVD). The self-forming of silicides NPs was expected during evaporation of Magnesium and Calcium on the heated a-Si:H surface. Germanium we deposited by Molecular Beam Epitaxy (MBE). The NPs self - forming was investigated by Scanning Electron Microscope (SEM), High Resolution Transmission Electron Microscope (HRTEM), Atomic Force Microscope (AFM) and Raman spectroscopy
Klasifikace
Druh
O - Ostatní výsledky
CEP obor
—
OECD FORD obor
10403 - Physical chemistry
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LM2015087" target="_blank" >LM2015087: Laboratoř nanostruktur a nanomateriálů</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů