Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Particle detectors based on InP Schottky diodes

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985882%3A_____%2F12%3A00387285" target="_blank" >RIV/67985882:_____/12:00387285 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Particle detectors based on InP Schottky diodes

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A study of electrical properties and detection performance of Indium Phosphide detector structures with Schottky contacts prepared on high purity p-type InP was performed. Schottky barrier detectors were prepared by vacuum evaporation of Pd on p-type epitaxial layers grown on Zn-doped p-type substrates. The detection performance of the detectors was characterized by the measurement of pulse-height spectra with alpha particles emitted from 241Am source at room temperature. The influence of the quality ofp-type epitaxial layers on the charge-collection efficiency and energy resolution in the full-width half-maximum is discussed

  • Název v anglickém jazyce

    Particle detectors based on InP Schottky diodes

  • Popis výsledku anglicky

    A study of electrical properties and detection performance of Indium Phosphide detector structures with Schottky contacts prepared on high purity p-type InP was performed. Schottky barrier detectors were prepared by vacuum evaporation of Pd on p-type epitaxial layers grown on Zn-doped p-type substrates. The detection performance of the detectors was characterized by the measurement of pulse-height spectra with alpha particles emitted from 241Am source at room temperature. The influence of the quality ofp-type epitaxial layers on the charge-collection efficiency and energy resolution in the full-width half-maximum is discussed

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Instrumentation

  • ISSN

    1748-0221

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    10

  • Číslo periodika v rámci svazku

    7

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    "C100051"-"C100055"

  • Kód UT WoS článku

    000310834800005

  • EID výsledku v databázi Scopus