Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Advances in scanning electron microscopy.

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F02%3A12020106" target="_blank" >RIV/68081731:_____/02:12020106 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Advances in scanning electron microscopy.

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The monograph defines a configuration, construction and electron optical parameters of a standard scanning electron microscope and it defines and analyses new principals and approaches towards this standard. All aspects of the device are dealt with including the detection system, mechanization of the construction, vacuum and control electronics. The attention is devoted to new trends, which are: microscopy at higher pressure, microscopy byvery slow electrons and multi-channel signal detection.

  • Název v anglickém jazyce

    Advances in scanning electron microscopy.

  • Popis výsledku anglicky

    The monograph defines a configuration, construction and electron optical parameters of a standard scanning electron microscope and it defines and analyses new principals and approaches towards this standard. All aspects of the device are dealt with including the detection system, mechanization of the construction, vacuum and control electronics. The attention is devoted to new trends, which are: microscopy at higher pressure, microscopy byvery slow electrons and multi-channel signal detection.

Klasifikace

  • Druh

    C - Kapitola v odborné knize

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA202%2F99%2F0008" target="_blank" >GA202/99/0008: Další rozvoj nenabíjející rastrovací elektronové mikroskopie nevodivých vzorků</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2002

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název knihy nebo sborníku

    Advances in imaging and electron physics.

  • ISBN

  • Počet stran výsledku

    46

  • Strana od-do

    327-373

  • Počet stran knihy

  • Název nakladatele

    Elsevier science

  • Místo vydání

    New York

  • Kód UT WoS kapitoly