Scanning low energy electron microscopy.

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A12030095" target="_blank" >RIV/68081731:_____/03:12030095 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Scanning low energy electron microscopy.
Popis výsledku v původním jazyce
Extensive review deals with principles of the scanning low energy electron microscopy in all important aspects starting from motivations to lower energy of electrons impinging on the specimen, including problems of interaction of slow electrons with thematter, emission yields, electron optical problems of formation low energy electron beams, detection issues, and general as well as specific questions of the instrumentation, and finishing with presentation of selected application results demonstrating capabilities of this microscopic mode.
Název v anglickém jazyce
Scanning low energy electron microscopy.
Popis výsledku anglicky
Extensive review deals with principles of the scanning low energy electron microscopy in all important aspects starting from motivations to lower energy of electrons impinging on the specimen, including problems of interaction of slow electrons with thematter, emission yields, electron optical problems of formation low energy electron beams, detection issues, and general as well as specific questions of the instrumentation, and finishing with presentation of selected application results demonstrating capabilities of this microscopic mode.

Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)