Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Mnohakanálová detekce úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů v rastrovacím nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu

Popis výsledku

Byl navržen a odzkoušen detektor zpětně odražených elektronů (BSE) na bázi kanálkové destičky, opatřený osmikanálovým kolektorem. Jeho kombinace s katodovou čočkou umožňuje zachycovat rovněž pomalé BSE a BSE emitované pod vysokými úhly vůči normále k povrchu, které standardní detektory nedetekují. Jsou prezentovány základny parametry systému.

Klíčová slova

BSE detectionmulti-channel detectorcathode lensangular distribution

Identifikátory výsledku

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Multi-Channel Detection of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A multi-channel plate based detector of backscattered electrons (BSE) with eight-channel collector has been designed and tested. Combination of with the cathode lens enables one to acquire also slow BSE and high-angle emitted BSE that are not acquired with standard detector assemblies. Basic performance data are presented.

  • Název v anglickém jazyce

    Multi-Channel Detection of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope

  • Popis výsledku anglicky

    A multi-channel plate based detector of backscattered electrons (BSE) with eight-channel collector has been designed and tested. Combination of with the cathode lens enables one to acquire also slow BSE and high-angle emitted BSE that are not acquired with standard detector assemblies. Basic performance data are presented.

Klasifikace

  • Druh

    Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microscopy and Microanalysis

  • ISSN

    1431-9276

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    12

  • Číslo periodika v rámci svazku

    Suppl. 2

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus

Základní informace

Druh výsledku

Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

Jx

CEP

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Rok uplatnění

2006