Mnohakanálová detekce úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů v rastrovacím nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu
Popis výsledku
Byl navržen a odzkoušen detektor zpětně odražených elektronů (BSE) na bázi kanálkové destičky, opatřený osmikanálovým kolektorem. Jeho kombinace s katodovou čočkou umožňuje zachycovat rovněž pomalé BSE a BSE emitované pod vysokými úhly vůči normále k povrchu, které standardní detektory nedetekují. Jsou prezentovány základny parametry systému.
Klíčová slova
BSE detectionmulti-channel detectorcathode lensangular distribution
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Multi-Channel Detection of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope
Popis výsledku v původním jazyce
A multi-channel plate based detector of backscattered electrons (BSE) with eight-channel collector has been designed and tested. Combination of with the cathode lens enables one to acquire also slow BSE and high-angle emitted BSE that are not acquired with standard detector assemblies. Basic performance data are presented.
Název v anglickém jazyce
Multi-Channel Detection of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope
Popis výsledku anglicky
A multi-channel plate based detector of backscattered electrons (BSE) with eight-channel collector has been designed and tested. Combination of with the cathode lens enables one to acquire also slow BSE and high-angle emitted BSE that are not acquired with standard detector assemblies. Basic performance data are presented.
Klasifikace
Druh
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
GA102/05/2327: Přímé zobrazení rozložení dopantů v polovodiči pomocí pomalých elektronů
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Svazek periodika
12
Číslo periodika v rámci svazku
Suppl. 2
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—
Základní informace
Druh výsledku
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Rok uplatnění
2006