Study of Hydrated Lime in Environmental Scanning Electron Microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00398025" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00398025 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Study of Hydrated Lime in Environmental Scanning Electron Microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

Environmental scanning electron microscopy (ESEM) is a widely used method that allows the overcoming of the limitations of the conventional SEM in order to facilitate the research and characterization of non-conductive, wet or liquid samples in particular. In the ESEM, samples can be observed across a wide range of sample temperatures, pressures of various gases (from units to thousands of Pa). etc., or in specific chemical conditions. In appropriate working conditions, wet non conductive samples like hydrated CaO were observed in their native state without prior dehydration or other preparation for charging artifact elimination.

Název v anglickém jazyce

Study of Hydrated Lime in Environmental Scanning Electron Microscopy

Popis výsledku anglicky

Environmental scanning electron microscopy (ESEM) is a widely used method that allows the overcoming of the limitations of the conventional SEM in order to facilitate the research and characterization of non-conductive, wet or liquid samples in particular. In the ESEM, samples can be observed across a wide range of sample temperatures, pressures of various gases (from units to thousands of Pa). etc., or in specific chemical conditions. In appropriate working conditions, wet non conductive samples like hydrated CaO were observed in their native state without prior dehydration or other preparation for charging artifact elimination.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

19

Číslo periodika v rámci svazku

S2

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

1644-1645

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—