Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Pokročilé interferometrické systémy pro měření v nanotechnologiích

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00421265" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00421265 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Pokročilé interferometrické systémy pro měření v nanotechnologiích

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Příspěvek popisuje výsledky společného projektu ÚPT a firmy Meopta ? optika zaměřeného na vývoj interferometrických systémů pro měření v nanotechnologiích. Na ÚPT AV ČR jde o navázání na výsledky výzkumu na poli interferometrického měření vzdáleností a laserů s vysokou koherencí, stabilizace optické frekvence laserů a laserové metrologie. Jde o výzkumné práce zaměřené na průmyslovou interferometrii a v součinnosti s firmou Meopta - optika, s.r.o. o předání potřebného know-how pro přípravu výroby. Náplňprojektu je zaměřená na výzkum technologie výroby, metodiky interferometrického měření, stabilizace frekvence laserových zdrojů záření, detekčních systémů interferenčního signálu, zpracování signálů, vše s důrazem na přesnost a rozlišení primárně pro měření v nanosvětě. Cílem společného úsilí je komplexní interferometrický měřicí systém v podobě funkčního vzoru, který bude sloužit jako východisko pro výrobu. Půjde o modulární rodinu komponentů konfigurovatelných pro různé sestavy využití

  • Název v anglickém jazyce

    Advanced Laser Measuring Systems in Nanometrology

  • Popis výsledku anglicky

    We present a development of a nanometrology system combining local probe microscopy and precise positioning and measuring in the nanoscale. The positioning operates in short range with a focus on precision; displacement measurement controls the sample stage in six degrees of freedom with high-resolution interferometry. The system is designed to operate as a national standard for nanometrology. The contribution presents collaborative work with Meopta company.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Sborník příspěvků multioborové konference LASER53

  • ISBN

    978-80-87441-10-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    53-54

  • Název nakladatele

    Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Třešť

  • Datum konání akce

    30. 10. 2013

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku