SEM characterization of carbon nanotubes based active layers of chemical sensors

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F14%3A00435575" target="_blank" >RIV/68081731:_____/14:00435575 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26220/14:PU110668

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2014.6887625" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2014.6887625</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2014.6887625" target="_blank" >10.1109/ISSE.2014.6887625</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

SEM characterization of carbon nanotubes based active layers of chemical sensors

Popis výsledku v původním jazyce

Characterization method for active layers for microelectrodes of electrochemical and gas sensors using scanning electron microscopy (SEM) is presented. In order to achieve maximum sensitivity and selectivity of the sensor, it is necessary to obtain precise knowledge of electrode's surface. Characterization was made using FEI Magellan SEM equipped with TLD secondary electron (SE) and CBS back-scattered electron (BSE) detectors, Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and beam deceleration system. SEMat lower energies offers several advantages, among them the most important are: increase of material contrast, high ratio SE, BSE signal and noise, smaller interaction volume and elimination of charging effects.

Název v anglickém jazyce

SEM characterization of carbon nanotubes based active layers of chemical sensors

Popis výsledku anglicky

Characterization method for active layers for microelectrodes of electrochemical and gas sensors using scanning electron microscopy (SEM) is presented. In order to achieve maximum sensitivity and selectivity of the sensor, it is necessary to obtain precise knowledge of electrode's surface. Characterization was made using FEI Magellan SEM equipped with TLD secondary electron (SE) and CBS back-scattered electron (BSE) detectors, Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and beam deceleration system. SEMat lower energies offers several advantages, among them the most important are: increase of material contrast, high ratio SE, BSE signal and noise, smaller interaction volume and elimination of charging effects.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the ISSE 2014. 37th International Spring Seminar on Electronics Technology

ISBN

978-1-4799-4455-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

361-364

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

Piscataway

Místo konání akce

Dresden

Datum konání akce

7. 5. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000346580500072