Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Examination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F15%3A00450818" target="_blank" >RIV/68081731:_____/15:00450818 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1017/S143192761500094X" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S143192761500094X</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1017/S143192761500094X" target="_blank" >10.1017/S143192761500094X</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Examination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Although graphene has been available and intensively studied for a full decade, new methods are still required for its examination and diagnostics. Even checking the continuity of layers and the reliable counting of layers of graphene and other 2D crystals should be easier to perform. Scanning low energy electron microscope (SLEEM) equipped with a cathode lens offers an innovative tool enabling one to see graphene samples at nanometer lateral resolution in both transmitted and reflected electrons and tocount the number of layers. This diagnostics can be performed on freestanding graphene samples as well as on graphene grown on the surfaces of bulk substrates. The freestanding graphene samples were first examined in the standard vacuum high resolutionSLEEM. Fig. 1 shows micrographs taken in the reflected electron (RE) as well as transmitted electron (TE) mode at several energies. The RE signal was composed of both secondary and backscattered electron emission, accelerated in the catho

  • Název v anglickém jazyce

    Examination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope

  • Popis výsledku anglicky

    Although graphene has been available and intensively studied for a full decade, new methods are still required for its examination and diagnostics. Even checking the continuity of layers and the reliable counting of layers of graphene and other 2D crystals should be easier to perform. Scanning low energy electron microscope (SLEEM) equipped with a cathode lens offers an innovative tool enabling one to see graphene samples at nanometer lateral resolution in both transmitted and reflected electrons and tocount the number of layers. This diagnostics can be performed on freestanding graphene samples as well as on graphene grown on the surfaces of bulk substrates. The freestanding graphene samples were first examined in the standard vacuum high resolutionSLEEM. Fig. 1 shows micrographs taken in the reflected electron (RE) as well as transmitted electron (TE) mode at several energies. The RE signal was composed of both secondary and backscattered electron emission, accelerated in the catho

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LO1212" target="_blank" >LO1212: ALISI - Centrum pokročilých diagnostických metod a technologií</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microscopy and Microanalysis

  • ISSN

    1431-9276

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    21

  • Číslo periodika v rámci svazku

    S3

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    29-30

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus