Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F16%3A00460209" target="_blank" >RIV/68081731:_____/16:00460209 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.trends.isibrno.cz/" target="_blank" >http://www.trends.isibrno.cz/</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples

Popis výsledku v původním jazyce

We explored the possibility of a Scanning Electron Microscopy technique for the determination of crystallographic orientation, based on the measurement of the reflectivity of very low energy electrons. Our experiments are based on the concept that in the incident electron energy range 0–30 eV, electron reflectivity can be correlated with the electronic structure of the material, which varies with the local crystallographic orientation of the specimen.nThe motivation for the development of this technique was to achieve a quick and highresolution means for determining the crystallographic orientation of very small grains in a polycrystalline material. The key limiting factor was the cleanliness of the sample surface and also the geometrical setup of the experiment.

Název v anglickém jazyce

Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples

Popis výsledku anglicky

We explored the possibility of a Scanning Electron Microscopy technique for the determination of crystallographic orientation, based on the measurement of the reflectivity of very low energy electrons. Our experiments are based on the concept that in the incident electron energy range 0–30 eV, electron reflectivity can be correlated with the electronic structure of the material, which varies with the local crystallographic orientation of the specimen.nThe motivation for the development of this technique was to achieve a quick and highresolution means for determining the crystallographic orientation of very small grains in a polycrystalline material. The key limiting factor was the cleanliness of the sample surface and also the geometrical setup of the experiment.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation

ISBN

978-80-87441-17-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

48-49

Název nakladatele

Institute of Scientific Instruments CAS

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Skalský dvůr

Datum konání akce

29. 5. 2016

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000391254000022