Přínos moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F20%3A00535190" target="_blank" >RIV/68081731:_____/20:00535190 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2020/2020-06/jmo_20_06_obsah.pdf" target="_blank" >https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2020/2020-06/jmo_20_06_obsah.pdf</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Přínos moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí

Popis výsledku v původním jazyce

Moderní rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) jsou vybaveny velmi sofistikovaným detekčním systémem, což uožňuje pozorovat povrch vzorků při různých energiích dopadu primárních elektronů. Signální elektrony jsou velice efektivně filtrovány základě jejich emisního úhlu a energie, se kterou byly emitovány ze vzorku. Filtrace signálních elektronů umožňuje optimalizovat zobrazovací podmínky v mikroskopu a získat požadovanou informaci o vzorku. Současné SEM instrumenty je možno operovat na široké škále urychlovacích napětí, a to od 30 keV až do jednotek elektronvoltů. Kombinace těchto dvou faktorů, t.j. sofistikované detekční strategie a možnosti používání extrémně nízkých dopadových energií primárního svazku, vede k možnosti zisku nových kontrastů a preciznější charakterizaci struktury ocelí. Cílem této studie je demonstrovat výhody moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí. Budou prezentovány konkrétní aplikace, jako je zobrazení jednotlivých fází ve vysokopevnostních ocelích, zobrazování jemných Mn oxidů na povrchu oceli, mapování Lavesovy fáze v COST F oceli, studium povrchových vrstev a další.n n

Název v anglickém jazyce

Contribution of modern scanning electron microscopy for the study of steels

Popis výsledku anglicky

Modern scanning electron microscopes (SEM) are equipped with very sophisticated detection system and allow to observe the surface of samples at different impact energies of primary electrons. The signal electrons are very efficiently filtered based on their emission angle and the energy with which they where emitted from the sample. Filtering of signal electrons allows us to optimize the imaging conditions in the microscope and obtain the required information about the sample. SEM instruments can be operated on a wide range of accelerating voltages, from 30 keV up to eV units. The combination of these two factors, i.e. sophisticated detection strategies and the possibility of using extremely low impact energies of the primary beam, leads to the possibility of gaining new contrast and more precise characterization of the steel structure.The aim of this study is to demonstrate advantages of modern scanning electron microscopy for the study of steels. specific applications will be presented, such as imaging of individual phases in high-strength steels, imaging of fine Mn oxides on the steel surface, mapping of the Laves phase in COST F steel, study of surface layers and more.n

Druh

J_ost - Ostatní články v recenzovaných periodicích

CEP obor

—

OECD FORD obor

20501 - Materials engineering

Projekt

<a href="/cs/project/TN01000008" target="_blank" >TN01000008: Centrum elektronové a fotonové optiky</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2020

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Jemná mechanika a optika

ISSN

0447-6441

e-ISSN

—

Svazek periodika

65

Číslo periodika v rámci svazku

6

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

171-174

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—