Nové metody přípravy vzorků pro moderní rastrovací elektronovou mikroskopii

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F21%3A00551148" target="_blank" >RIV/68081731:_____/21:00551148 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.metalografie.vzuplzen.cz/doc/sbornik-Metalografie2021.pdf" target="_blank" >http://www.metalografie.vzuplzen.cz/doc/sbornik-Metalografie2021.pdf</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Nové metody přípravy vzorků pro moderní rastrovací elektronovou mikroskopii

Popis výsledku v původním jazyce

Moderní rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) jsou vybaveny velmi sofistikovaným detekčním systémem, který umožňuje detekovat signální elektrony současně pomocí několika různě umístěných detektorů. Tímto způsobem dochází k filtraci signálních elektronů podle energie a úhlu. Efektivní filtrace signálu v rastrovací elektronové mikroskopii současně s možností použití velmi nízkých dopadových energií primárního svazku vede k extrémní citlivosti této metody na kvalitu povrchu vzorku a jeho stav. Současné metalografické metody přípravy vzorků začínají být nedostatečné pro pokročilé zobrazování v moderních SEM instrumentech. Klasická příprava vzorků se ukazuje jako nevhodná zejména pro nízkonapěťovou rastrovací elektronovou mikroskopii. V práci budou prezentovány první výsledky experimentů vlivu běžných metod přípravy na stav povrchu a možnost odlišení jednotlivých fází TRIP oceli pomocí pokročilých technik elektronové mikroskopie a budou také nastíněny možnosti nových postupů využívajících například robotizace.

Název v anglickém jazyce

New methods of sample preparation for modern scanning electron microscopy

Popis výsledku anglicky

Modern scanning electron microscopes (SEM) are equipped with a very sophisticated detection system that allows the detection of signal electrons by several differently located detectors simultaneously. Signal electrons are filtered according to energy and angle. Effective signal filtering in SEM together with the possibility of using very low impact energies of the primary beam leads to the extreme sensitivity of this method to the quality of the sample surface. Current metallographic methods of sample preparation are becoming insufficient for advanced imaging in modern SEM instruments. Classical sample preparation proves to be completely unsuitable especially for low-voltage scanning electron microscopy. The work will present the first results of the influence of preparation methods on the surface condition and the possibility of differentiating the individual phases of TRIP steel using advanced electron microscopy techniques. The possibilities of new procedures using robotics will be shown.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

20501 - Materials engineering

Projekt

<a href="/cs/project/TN01000008" target="_blank" >TN01000008: Centrum elektronové a fotonové optiky</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2021

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

15. konference Přínos metalografie pro řešení výrobních problémů. Sborník přednášek

ISBN

978-80-01-06883-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

114-120

Název nakladatele

České vysoké učení technické v Praze

Místo vydání

Praha

Místo konání akce

Mariánské Lázně

Datum konání akce

21. 9. 2021

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—