Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Růst a vlastnosti InAs/InxGa1-xAs/GaAs struktur s kvantovými tečkami

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00308047" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00308047 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Growth and properties of InAs/InxGa1-xAs/GaAs quantum dot structures

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Single- and double-layer InAs/GaAs quantum dot structures with strain-reducing layers (SRLs) were prepared by metalorganic vaporphase epitaxy using the Stranski?Krastanow growth mode. Structures were studied in-situ by reflectance anisotropy spectroscopy(RAS), and ex-situ by photoluminescence (PL). These structures, with very intense room temperature PL at wavelengths from 1.25 to 1.55 ?m according to growth and structure parameters, were grown along while monitored with RAS. Strong correlation betweenRAS signal and PL intensity was found. Dependence of PL emission maximum position on SRL composition and capping layer thickness is shown.

  • Název v anglickém jazyce

    Growth and properties of InAs/InxGa1-xAs/GaAs quantum dot structures

  • Popis výsledku anglicky

    Single- and double-layer InAs/GaAs quantum dot structures with strain-reducing layers (SRLs) were prepared by metalorganic vaporphase epitaxy using the Stranski?Krastanow growth mode. Structures were studied in-situ by reflectance anisotropy spectroscopy(RAS), and ex-situ by photoluminescence (PL). These structures, with very intense room temperature PL at wavelengths from 1.25 to 1.55 ?m according to growth and structure parameters, were grown along while monitored with RAS. Strong correlation betweenRAS signal and PL intensity was found. Dependence of PL emission maximum position on SRL composition and capping layer thickness is shown.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Crystal Growth

  • ISSN

    0022-0248

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    310

  • Číslo periodika v rámci svazku

    7-9

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    2229-2233

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus