Nízkoteplotní růst souvislých diamantových vrstev na skle a na křemíku
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00319790" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00319790 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Formation of continuous nanocrystalline diamond layer on glass and silicon at low temperatures
Popis výsledku v původním jazyce
Nanocrystalline diamond thin films are grown on silicon and glass substrates by microwave plasma (MP)CVD from a gas mixture of methane and hydrogen at low substrate temperatures. The initial stages of diamond growth, i.e., i) the growth of individual nanometer-sized crystals and clusters, and ii) coalescence into a continuous layer, are investigated by diverse analytic techniques. AFM measurements reveal nearly unchanging surface roughness up to 40 min. XPS measurements detect changing of the surface composition from the very beginning of the growth process. The rapid carbon increase is assigned to the enlarging of the grown crystals and clusters. SEM images indicate a possible lateral growth type. The found dependences indicate that a two-dimensionalgrowth mode takes place at low substrate temperatures. Grown nanocrystalline diamond films are optically transparent in a wide spectral range, and exhibit a high refractive index of 2.34.
Název v anglickém jazyce
Formation of continuous nanocrystalline diamond layer on glass and silicon at low temperatures
Popis výsledku anglicky
Nanocrystalline diamond thin films are grown on silicon and glass substrates by microwave plasma (MP)CVD from a gas mixture of methane and hydrogen at low substrate temperatures. The initial stages of diamond growth, i.e., i) the growth of individual nanometer-sized crystals and clusters, and ii) coalescence into a continuous layer, are investigated by diverse analytic techniques. AFM measurements reveal nearly unchanging surface roughness up to 40 min. XPS measurements detect changing of the surface composition from the very beginning of the growth process. The rapid carbon increase is assigned to the enlarging of the grown crystals and clusters. SEM images indicate a possible lateral growth type. The found dependences indicate that a two-dimensionalgrowth mode takes place at low substrate temperatures. Grown nanocrystalline diamond films are optically transparent in a wide spectral range, and exhibit a high refractive index of 2.34.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Chemical Vapor Deposition
ISSN
0948-1907
e-ISSN
—
Svazek periodika
14
Číslo periodika v rámci svazku
7-8
Stát vydavatele periodika
DE - Spolková republika Německo
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000259302700005
EID výsledku v databázi Scopus
—