Příprava lokalizovaných tenkých folií z bi- a trikrystalů Fe-3%Si pro FEG-STEM vyšetřování

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00322208" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00322208 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM
Popis výsledku v původním jazyce
The grain boundary triple junction has been extracted from the tri-crystal and examined in high-resolution aberration-corrected FEG-STEM instruments. An in situ focused ion beam lift-out technique has been combined with an additional precision ion-polishing stage to reproducibly provide thin-foil specimens suitable for high-resolution EELS and EDX analysis.
Název v anglickém jazyce
Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM
Popis výsledku anglicky
The grain boundary triple junction has been extracted from the tri-crystal and examined in high-resolution aberration-corrected FEG-STEM instruments. An in situ focused ion beam lift-out technique has been combined with an additional precision ion-polishing stage to reproducibly provide thin-foil specimens suitable for high-resolution EELS and EDX analysis.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/IAA1010414" target="_blank" >IAA1010414: Krystalizace jedno- a vícefázových materiálů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)