Deposition of SiC thin films using pulsed sputtering of a hollow cathode
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00331189" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00331189 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Deposition of SiC thin films using pulsed sputtering of a hollow cathode
Popis výsledku v původním jazyce
Thin films of SiC have been deposited using a hollow cathode sputtering methodes. Crystalline SiC thin films were deposited by pulsed hollow cathode plasma excitation.
Název v anglickém jazyce
Deposition of SiC thin films using pulsed sputtering of a hollow cathode
Popis výsledku anglicky
Thin films of SiC have been deposited using a hollow cathode sputtering methodes. Crystalline SiC thin films were deposited by pulsed hollow cathode plasma excitation.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/1M06002" target="_blank" >1M06002: Optické struktury, detekční systémy a související technologie pro nízkofotonové aplikace</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Materials Science and Engineering
ISSN
1934-8959
e-ISSN
—
Svazek periodika
3
Číslo periodika v rámci svazku
8
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—