Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon"

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00355032" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00355032 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon"

Popis výsledku v původním jazyce

We show that local currents observed by the conductive atomic force microscopy (C-AFM) of silicon thin films measured in ambient atmosphere are generally limited by surface oxide, either native or created by the measurement itself in a process of local anodic oxidation. The tip-induced oxidation changes character of the local current maps, either in repeated scans or even in the first scan of a pristine surface. In particular, the preoxidation of the neighboring scan lines leads to the appearance of grain edges as conductive rings, previously interpreted as an evidence of the main transport route at the grain boundaries in microcrystalline silicon. We also show that stripping of the surface oxide by HF etch restores the local currents to the values corresponding to C-AFM done in ultra-high-vacuum on in situ deposited samples.

Název v anglickém jazyce

Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon"

Popis výsledku anglicky

We show that local currents observed by the conductive atomic force microscopy (C-AFM) of silicon thin films measured in ambient atmosphere are generally limited by surface oxide, either native or created by the measurement itself in a process of local anodic oxidation. The tip-induced oxidation changes character of the local current maps, either in repeated scans or even in the first scan of a pristine surface. In particular, the preoxidation of the neighboring scan lines leads to the appearance of grain edges as conductive rings, previously interpreted as an evidence of the main transport route at the grain boundaries in microcrystalline silicon. We also show that stripping of the surface oxide by HF etch restores the local currents to the values corresponding to C-AFM done in ultra-high-vacuum on in situ deposited samples.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Physical Review. B

ISSN

1098-0121

e-ISSN

—

Svazek periodika

81

Číslo periodika v rámci svazku

23

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—