X-ray topographic investigation of the deformation field around spots irradiated by FLASH single pulses
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F11%3A00372183" target="_blank" >RIV/68378271:_____/11:00372183 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.radphyschem.2011.02.034" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.radphyschem.2011.02.034</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.radphyschem.2011.02.034" target="_blank" >10.1016/j.radphyschem.2011.02.034</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
X-ray topographic investigation of the deformation field around spots irradiated by FLASH single pulses
Popis výsledku v původním jazyce
An important problem in the experiments performed with the intense fourth generation X-ray sources is the damages of the examined samples caused by the high energy impact. The effect introduced by the beam from the FLASH source in crystalline silicon samples was studied through synchrotron white beam projection and section topography, enabling the evaluation of the strain field associated with the damages. The topographs indicated the existence of deformed field of cylindrical symmetry providing the dark contrast. It was also shown that some of the Bragg-case section images of spots in silicon correspond well to the simulated images of rod-like inclusions.
Název v anglickém jazyce
X-ray topographic investigation of the deformation field around spots irradiated by FLASH single pulses
Popis výsledku anglicky
An important problem in the experiments performed with the intense fourth generation X-ray sources is the damages of the examined samples caused by the high energy impact. The effect introduced by the beam from the FLASH source in crystalline silicon samples was studied through synchrotron white beam projection and section topography, enabling the evaluation of the strain field associated with the damages. The topographs indicated the existence of deformed field of cylindrical symmetry providing the dark contrast. It was also shown that some of the Bragg-case section images of spots in silicon correspond well to the simulated images of rod-like inclusions.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Radiation Physics and Chemistry
ISSN
0969-806X
e-ISSN
—
Svazek periodika
80
Číslo periodika v rámci svazku
10
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
1036-1040
Kód UT WoS článku
000293424000008
EID výsledku v databázi Scopus
—