EPR study of the nitrogen containing defect center created in selfassembled 6H SiC nanostructure

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F13%3A00396199" target="_blank" >RIV/68378271:_____/13:00396199 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.389" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.389</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.389" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.389</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

EPR study of the nitrogen containing defect center created in selfassembled 6H SiC nanostructure

Popis výsledku v původním jazyce

Triplet center with spin state S = 1 is detected in the EPR spectrum of the self-assembled 6H SiC nanostructure obtained by non-equilibrium boron diffusion into the n-type 6H SiC epitaxial layer (EL) under conditions of the controlled injection of the silicon vacancies at the temperature of T = 9000C. From the analysis of the angular dependences of the EPR spectrum and the numerical diagonalization of the spin Hamiltonian, the value of the zero-field splitting constant D and g-factor are found to be D =114010-4 cm-1 and g|| = 1.9700, g(perpendicular to) = 1.9964. Based on the hyperfine (hf) structure of the defect originating from the hf interaction with one 14N nuclei, the large value of the zero-field splitting constant D and technological conditions of the boron diffusion into the n-type 6H SiC EL, the triplet center is tentatively assigned to the defect center consisting of nitrogen atom and silicon vacancy.

Název v anglickém jazyce

EPR study of the nitrogen containing defect center created in selfassembled 6H SiC nanostructure

Popis výsledku anglicky

Triplet center with spin state S = 1 is detected in the EPR spectrum of the self-assembled 6H SiC nanostructure obtained by non-equilibrium boron diffusion into the n-type 6H SiC epitaxial layer (EL) under conditions of the controlled injection of the silicon vacancies at the temperature of T = 9000C. From the analysis of the angular dependences of the EPR spectrum and the numerical diagonalization of the spin Hamiltonian, the value of the zero-field splitting constant D and g-factor are found to be D =114010-4 cm-1 and g|| = 1.9700, g(perpendicular to) = 1.9964. Based on the hyperfine (hf) structure of the defect originating from the hf interaction with one 14N nuclei, the large value of the zero-field splitting constant D and technological conditions of the boron diffusion into the n-type 6H SiC EL, the triplet center is tentatively assigned to the defect center consisting of nitrogen atom and silicon vacancy.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Silicon Carbide and Related Materials 2012

ISBN

—

ISSN

0255-5476

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

389-392

Název nakladatele

Trans Tech Publications Ltd

Místo vydání

Zurich

Místo konání akce

St Petersburg

Datum konání akce

2. 9. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000319785500091