Silicon vacancy-related centers in non-irradiated 6H-SiC nanostructur
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00448576" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00448576 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1134/S1063782615050036" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1134/S1063782615050036</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1134/S1063782615050036" target="_blank" >10.1134/S1063782615050036</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Silicon vacancy-related centers in non-irradiated 6H-SiC nanostructur
Popis výsledku v původním jazyce
We present the first findings of the silicon vacancy related centers identified in the non-irradiated 6H-SiC nanostructure using the electron spin resonance (ESR) and electrically-detected (ED) ESR technique. This planar 6H-SiC nanostructure represents the ultra-narrow p-type quantum well confined by the ?-barriers heavily doped with boron on the surface of the n-type 6H-SiC(0001) wafer. The new EDESR technique by measuring the only magnetoresistance of the 6H-SiC nanostructure under the high frequencygen- eration from the ?-barriers appears to allow the identification of the isolated silicon vacancy centers as well as the triplet center with spin state S = 1. The same triplet center that is characterized by the large value of the zero-field splittingconstant D and anisotropic g-factor is revealed by the ESR (X-band) method.
Název v anglickém jazyce
Silicon vacancy-related centers in non-irradiated 6H-SiC nanostructur
Popis výsledku anglicky
We present the first findings of the silicon vacancy related centers identified in the non-irradiated 6H-SiC nanostructure using the electron spin resonance (ESR) and electrically-detected (ED) ESR technique. This planar 6H-SiC nanostructure represents the ultra-narrow p-type quantum well confined by the ?-barriers heavily doped with boron on the surface of the n-type 6H-SiC(0001) wafer. The new EDESR technique by measuring the only magnetoresistance of the 6H-SiC nanostructure under the high frequencygen- eration from the ?-barriers appears to allow the identification of the isolated silicon vacancy centers as well as the triplet center with spin state S = 1. The same triplet center that is characterized by the large value of the zero-field splittingconstant D and anisotropic g-factor is revealed by the ESR (X-band) method.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Semiconductors
ISSN
1063-7826
e-ISSN
—
Svazek periodika
49
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
RU - Ruská federace
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
649-657
Kód UT WoS článku
000354103400018
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84928898748