Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Optical emission spectroscopy of High Power Impulse Magnetron Sputtering (HiPIMS) of CIGS thin films

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00439961" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00439961 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/PVSC.2014.6925239" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/PVSC.2014.6925239</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/PVSC.2014.6925239" target="_blank" >10.1109/PVSC.2014.6925239</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Optical emission spectroscopy of High Power Impulse Magnetron Sputtering (HiPIMS) of CIGS thin films

  • Popis výsledku v původním jazyce

    CuIn1-xGaxSe2 (CIGS) thin films with x = 0, 0.28 and 1 were prepared by the sputtering of Cu, In and Ga in HiPIMS (High Power Impulse Magnetron Sputtering) or DC magnetron and subsequently selenized in an Ar+Se atmosphere. Optical emission spectroscopy (OES) was used to monitor differences in HiPIMS and DC plasma during sputtering of metallic precursors. Thin film characteristics were measured using X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), Raman spectroscopy, energy-dispersive X-rayspectroscopy (EDX) and other techniques.

  • Název v anglickém jazyce

    Optical emission spectroscopy of High Power Impulse Magnetron Sputtering (HiPIMS) of CIGS thin films

  • Popis výsledku anglicky

    CuIn1-xGaxSe2 (CIGS) thin films with x = 0, 0.28 and 1 were prepared by the sputtering of Cu, In and Ga in HiPIMS (High Power Impulse Magnetron Sputtering) or DC magnetron and subsequently selenized in an Ar+Se atmosphere. Optical emission spectroscopy (OES) was used to monitor differences in HiPIMS and DC plasma during sputtering of metallic precursors. Thin film characteristics were measured using X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), Raman spectroscopy, energy-dispersive X-rayspectroscopy (EDX) and other techniques.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LH12045" target="_blank" >LH12045: Příprava a analýza vlastností tenkovrstvých Cu(In,X)Se2 solárních článků připravovaných metodami plazmatické depozice a sprejového naprašování</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    IEEE Photovoltaic Specialist Conference (PVSC 2014) /40./

  • ISBN

    9781479943982

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1666-1669

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    New York

  • Místo konání akce

    Denver

  • Datum konání akce

    8. 6. 2014

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku