Attenuated total reflectance Fourier-transform infrared spectroscopic investigation of silicon heterojunction solar cells
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00449313" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00449313 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4926749" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4926749</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4926749" target="_blank" >10.1063/1.4926749</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Attenuated total reflectance Fourier-transform infrared spectroscopic investigation of silicon heterojunction solar cells
Popis výsledku v původním jazyce
Silicon heterojunction solar cells critically depend on the detailed properties of their amorphous/crystalline silicon interfaces. We report here on the use of attenuated total reflectance Fourier-transform infrared (ATR-FTIR) spectroscopy to gain precise insight into the vibrational properties of the surfaces and ultrathin layers present in such solar cells. We fabricate ATR prisms from standard silicon wafers similar to those used for device fabrication. In this fashion, we acquire very-high sensitivity FTIR information on device-relevant structures. Our method has no requirement for minimum layer thickness, enabling the study of the impact of the different fabrication process steps on the film microstructure. We discuss the necessary requirements for the method implementation and give a comprehensive overview of all observed vibration modes.
Název v anglickém jazyce
Attenuated total reflectance Fourier-transform infrared spectroscopic investigation of silicon heterojunction solar cells
Popis výsledku anglicky
Silicon heterojunction solar cells critically depend on the detailed properties of their amorphous/crystalline silicon interfaces. We report here on the use of attenuated total reflectance Fourier-transform infrared (ATR-FTIR) spectroscopy to gain precise insight into the vibrational properties of the surfaces and ultrathin layers present in such solar cells. We fabricate ATR prisms from standard silicon wafers similar to those used for device fabrication. In this fashion, we acquire very-high sensitivity FTIR information on device-relevant structures. Our method has no requirement for minimum layer thickness, enabling the study of the impact of the different fabrication process steps on the film microstructure. We discuss the necessary requirements for the method implementation and give a comprehensive overview of all observed vibration modes.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Review of Scientific Instruments
ISSN
0034-6748
e-ISSN
—
Svazek periodika
86
Číslo periodika v rámci svazku
7
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
"073108-1"-"073108-6"
Kód UT WoS článku
000358934400019
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84937500628