Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00458106" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00458106 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass

Popis výsledku v původním jazyce

Optical and photoelectrical properties of materials from TEL Solar were characterized in the Institute of Physics, AS CR in a broad spectral region and a high dynamic range. Conclusions on material properties with respect to thin film silicon solar cellswere drawn.

Název v anglickém jazyce

Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass

Popis výsledku anglicky

Optical and photoelectrical properties of materials from TEL Solar were characterized in the Institute of Physics, AS CR in a broad spectral region and a high dynamic range. Conclusions on material properties with respect to thin film silicon solar cellswere drawn.

Druh

V_souhrn - Souhrnná výzkumná zpráva

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Počet stran výsledku

22

Místo vydání

Praha

Název nakladatele resp. objednatele

Tel Solar AG, Trübbach, Switzerland

Verze

—