Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Influence of passivation coating on AlGaN/GaN heterostructure during the diamond CVD

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F17%3A00483209" target="_blank" >RIV/68378271:_____/17:00483209 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Influence of passivation coating on AlGaN/GaN heterostructure during the diamond CVD

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this study, we use electronic structures (circular patterns for transition line measurements and high electron mobility transistors) fabricated on AlGaN/GaN heterostructure. The bare samples and samples passivated by thin (30 nm) SiOx, SiNx and SiC coatings were tested. We used high temperature stable Ir/Al multilayer Schottky metallization for gate contact. Diamond films were grown by selective area deposition from CH4/H2 gas mixture using MWCVD at 500°C. The SEM found that any of used protective coating was able to withstand mutual acting of hydrogen and high temperature during diamond deposition process with 100% effectivity. Nevertheless, even bare sample do not demonstrate so severe surface damage as was reported before. The X-ray photoelectron spectroscopy show high level of surface contamination after diamond deposition in particular by carbon while the SIMS reveal the bulk composition down to AlGaN/GaN heterostructure interface and variation of hydrogen amount.

  • Název v anglickém jazyce

    Influence of passivation coating on AlGaN/GaN heterostructure during the diamond CVD

  • Popis výsledku anglicky

    In this study, we use electronic structures (circular patterns for transition line measurements and high electron mobility transistors) fabricated on AlGaN/GaN heterostructure. The bare samples and samples passivated by thin (30 nm) SiOx, SiNx and SiC coatings were tested. We used high temperature stable Ir/Al multilayer Schottky metallization for gate contact. Diamond films were grown by selective area deposition from CH4/H2 gas mixture using MWCVD at 500°C. The SEM found that any of used protective coating was able to withstand mutual acting of hydrogen and high temperature during diamond deposition process with 100% effectivity. Nevertheless, even bare sample do not demonstrate so severe surface damage as was reported before. The X-ray photoelectron spectroscopy show high level of surface contamination after diamond deposition in particular by carbon while the SIMS reveal the bulk composition down to AlGaN/GaN heterostructure interface and variation of hydrogen amount.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GBP108%2F12%2FG108" target="_blank" >GBP108/12/G108: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů zářením</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Extended Abstract Book of international conference Progress in Applied Surface - SURFINT-SREN V

  • ISBN

    978-80-2234411-1

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    13-14

  • Název nakladatele

    Comenius University

  • Místo vydání

    Bratislava

  • Místo konání akce

    Florence

  • Datum konání akce

    20. 11. 2017

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku