Luminescence red shift of InGaN/GaN heterostructures by enlargement of V-pits
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F19%3A00520830" target="_blank" >RIV/68378271:_____/19:00520830 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Luminescence red shift of InGaN/GaN heterostructures by enlargement of V-pits
Popis výsledku v původním jazyce
Luminescence and morphology properties of thick InGaN/GaN multi-quantum well (MQW) heterostructures were investigated. Five samples with number of InGaN/GaN quantum wells (QWs) from 10 to 60 were prepared to achieve a thick active MQW layer. The increasing QWs number leads to accumulation of strain in InGaN/GaN layers and opening of new V-pits due to strain relaxation. The ratio between surfaces of the V-pits’ semipolar QWs and c-plane QWs is increasing because of the growing size and number of V-pits. The consequence is a nearly linear luminescence redshift of the upper c-plane QWs caused probably by increased QW thickness due to lateral migration of In atoms from semipolar to c-plane QWs and also decreasing photoluminescence (PL) intensity of upper QWs for QW number above 30.
Název v anglickém jazyce
Luminescence red shift of InGaN/GaN heterostructures by enlargement of V-pits
Popis výsledku anglicky
Luminescence and morphology properties of thick InGaN/GaN multi-quantum well (MQW) heterostructures were investigated. Five samples with number of InGaN/GaN quantum wells (QWs) from 10 to 60 were prepared to achieve a thick active MQW layer. The increasing QWs number leads to accumulation of strain in InGaN/GaN layers and opening of new V-pits due to strain relaxation. The ratio between surfaces of the V-pits’ semipolar QWs and c-plane QWs is increasing because of the growing size and number of V-pits. The consequence is a nearly linear luminescence redshift of the upper c-plane QWs caused probably by increased QW thickness due to lateral migration of In atoms from semipolar to c-plane QWs and also decreasing photoluminescence (PL) intensity of upper QWs for QW number above 30.
Klasifikace
Druh
O - Ostatní výsledky
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LO1603" target="_blank" >LO1603: Centrum technologie a pokročilé strukturní analýzy aplikačně významných materiálů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů