Environmental stability and ageing of ScN thin films from XPS Ar+ depth profiling

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F24%3A00598459" target="_blank" >RIV/68378271:_____/24:00598459 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/61989100:27740/24:10255806 RIV/00216208:11320/24:10483285

Výsledek na webu

<a href="https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160867" target="_blank" >https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160867</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160867" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2024.160867</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Environmental stability and ageing of ScN thin films from XPS Ar+ depth profiling

Popis výsledku v původním jazyce

A basic knowledge on chemical stability and reactivity of a wide band gap ScN semiconductor in the presence of air atmosphere, where O2 and H2O represent the main degradation or corrosive agents, is of vital importance for a long-term performance of ScN-based devices for thermoelectric applications. Here, we present a systematic XPS Ar+ depth profiling analysis and optical and TEM characterizations of naturally room temperature air-aged thin ScN films prepared by a high-temperature DC sputtering on MgO(0 0 1) and SiO2 substrates. We find that superior crystalline quality ScN/MgO films degrade weakly after their quick initial surface oxidation and/or hydrolysis.

Název v anglickém jazyce

Environmental stability and ageing of ScN thin films from XPS Ar+ depth profiling

Popis výsledku anglicky

A basic knowledge on chemical stability and reactivity of a wide band gap ScN semiconductor in the presence of air atmosphere, where O2 and H2O represent the main degradation or corrosive agents, is of vital importance for a long-term performance of ScN-based devices for thermoelectric applications. Here, we present a systematic XPS Ar+ depth profiling analysis and optical and TEM characterizations of naturally room temperature air-aged thin ScN films prepared by a high-temperature DC sputtering on MgO(0 0 1) and SiO2 substrates. We find that superior crystalline quality ScN/MgO films degrade weakly after their quick initial surface oxidation and/or hydrolysis.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2024

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Applied Surface Science

ISSN

0169-4332

e-ISSN

1873-5584

Svazek periodika

674

Číslo periodika v rámci svazku

Nov

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

19

Strana od-do

160867

Kód UT WoS článku

001295721200001

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85201122479