Influence of Object Position on Accuracy of Optical Measurement Systems

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21110%2F05%3A00109597" target="_blank" >RIV/68407700:21110/05:00109597 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Influence of Object Position on Accuracy of Optical Measurement Systems

Popis výsledku v původním jazyce

The work analyses an influence of the change of object position on the accuracy of optical and optoelectronic measurement systems using both geometrical and diffraction theory. It is shown that in case of the change of position of the measured object theimaging properties of the used optical measurement instrument are changed

Název v anglickém jazyce

Influence of Object Position on Accuracy of Optical Measurement Systems

Popis výsledku anglicky

The work analyses an influence of the change of object position on the accuracy of optical and optoelectronic measurement systems using both geometrical and diffraction theory. It is shown that in case of the change of position of the measured object theimaging properties of the used optical measurement instrument are changed

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA103%2F02%2F0357" target="_blank" >GA103/02/0357: Moderní optoelektronické metody topografie ploch</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of SPIE Vol. 5945

ISBN

0-8194-5951-8

ISSN

0277-786X

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

11

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Washington

Místo konání akce

Nitra

Datum konání akce

13. 9. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—