Kontrast z karbonu při nízkém napětí elektronová mikroskopie - Monte-Carlo simulace

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F08%3A02150620" target="_blank" >RIV/68407700:21220/08:02150620 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Contrast of carbon in low-voltage electron microscopy - Monte-Carlo simulation

Popis výsledku v původním jazyce

Low-voltage transmission electron microscopy (LVEM) using very low accelerating voltage 5keV for observation of low density materials (unstained biological samples and organic thin films) has the advantage of high contrast due to the high scattering efficiency of atoms at low electron energy. The disadvantage of LVEM is the very low transmittable sample thickness. To quantify the transmittance of the samples and the contrast formation, we simulated the interaction of an electron beam with a thin carbonfilm by our Monte-Carlo code. As the result of our calculations, we obtained the spatial distribution of the transmitted electrons in conditions like those in LVEM, and we were able to find the dependence of the image contrast on the thickness and density of the samples and on the size of the microscope objective aperture.

Název v anglickém jazyce

Contrast of carbon in low-voltage electron microscopy - Monte-Carlo simulation

Popis výsledku anglicky

Low-voltage transmission electron microscopy (LVEM) using very low accelerating voltage 5keV for observation of low density materials (unstained biological samples and organic thin films) has the advantage of high contrast due to the high scattering efficiency of atoms at low electron energy. The disadvantage of LVEM is the very low transmittable sample thickness. To quantify the transmittance of the samples and the contrast formation, we simulated the interaction of an electron beam with a thin carbonfilm by our Monte-Carlo code. As the result of our calculations, we obtained the spatial distribution of the transmitted electrons in conditions like those in LVEM, and we were able to find the dependence of the image contrast on the thickness and density of the samples and on the size of the microscope objective aperture.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JD - Využití počítačů, robotika a její aplikace

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Journal of Physics

ISBN

—

ISSN

1742-6588

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

1

Strana od-do

—

Název nakladatele

Institut of Physics

Místo vydání

London

Místo konání akce

London

Datum konání akce

12. 9. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000263476400062