Problematika nehomogenního rozložení doby života nosičů ve velkoplošných součástkách

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F06%3A03121720" target="_blank" >RIV/68407700:21230/06:03121720 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
A Note on Non-Uniform Distribution of the Carrier Lifetime in Large-Area Devices
Popis výsledku v původním jazyce
In the paper, the influence of carrier lifetime inhomogeneous distribution on device characteristics is discussed. Further, monitoring methods measuring carrier lifetime distribution both in starting single crystal material and in device structures afterhigh-temperature processes and technological tools for the structure homogenisation are also discussed.
Název v anglickém jazyce
A Note on Non-Uniform Distribution of the Carrier Lifetime in Large-Area Devices
Popis výsledku anglicky
In the paper, the influence of carrier lifetime inhomogeneous distribution on device characteristics is discussed. Further, monitoring methods measuring carrier lifetime distribution both in starting single crystal material and in device structures afterhigh-temperature processes and technological tools for the structure homogenisation are also discussed.

Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
ICSICT - 2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Proceedings
ISBN
1-4244-0160-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1113-1116
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Piscataway
Místo konání akce
Shanghai
Datum konání akce
23. 10. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)