3D Modeling of Assembly Influence on Packaged Transistors
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00184396" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00184396 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
3D Modeling of Assembly Influence on Packaged Transistors
Popis výsledku v původním jazyce
Achievements and work in progress from year 2011 are shown and discussed in this paper. This research is examining an assembly influences on packaged microwave transistors. Complex 3D electromagnetic simulations software is used to characterize the effects. Packages that were simulated are: Excelics 70-mil package and Avago Wafer Scale Package (WSP) which is used for the current VMMK transistor/amplifier range. Packages' dimensions were accurately measured and modeled accordingly. The assembly influencewill be discussed while using four different substrates and two transmission lines. The effect of different surrounding environment for transistor package will be shown in the frequency range up to 40 GHz. The simulation results are verified by the measurements as well and good match is obtained.
Název v anglickém jazyce
3D Modeling of Assembly Influence on Packaged Transistors
Popis výsledku anglicky
Achievements and work in progress from year 2011 are shown and discussed in this paper. This research is examining an assembly influences on packaged microwave transistors. Complex 3D electromagnetic simulations software is used to characterize the effects. Packages that were simulated are: Excelics 70-mil package and Avago Wafer Scale Package (WSP) which is used for the current VMMK transistor/amplifier range. Packages' dimensions were accurately measured and modeled accordingly. The assembly influencewill be discussed while using four different substrates and two transmission lines. The effect of different surrounding environment for transistor package will be shown in the frequency range up to 40 GHz. The simulation results are verified by the measurements as well and good match is obtained.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GD102%2F08%2FH027" target="_blank" >GD102/08/H027: Pokročilé metody, struktury a komponenty elektronické bezdrátové komunikace</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Sborník semináře o řešení doktorského projektu Grantové agentury České republiky č. 102/08/H027 v roce 2011 - Pokročilé metody, struktury a komponenty elektronické bezdrátové komunikace
ISBN
978-80-214-4368-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
26-30
Název nakladatele
VUT v Brně, FEKT, Ústav radioelektroniky
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
22. 11. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—