Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterization and simulation of neutron irradiated JBS silicon carbide diode structures

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F14%3A00217965" target="_blank" >RIV/68407700:21230/14:00217965 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.605.151" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.605.151</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.605.151" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/KEM.605.151</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization and simulation of neutron irradiated JBS silicon carbide diode structures

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper deals with an effect of radiation damage produced by fast neutrons on characteristics of JBS diodes produced on 4H-SiC, dynamic characterization methode for I-V measurement and SPICE model of neutron irradiated JBS diode.

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization and simulation of neutron irradiated JBS silicon carbide diode structures

  • Popis výsledku anglicky

    This paper deals with an effect of radiation damage produced by fast neutrons on characteristics of JBS diodes produced on 4H-SiC, dynamic characterization methode for I-V measurement and SPICE model of neutron irradiated JBS diode.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GAP102%2F12%2F2108" target="_blank" >GAP102/12/2108: Poruchy v širokopásových polovodičích a jejich význam pro výkonovou a vysokoteplotní elektroniku</a><br>

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    IC-MAST - 3rd International Conference on Materials and Applications for Sensors and Transducers

  • ISBN

    9783038350514

  • ISSN

    1013-9826

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    151-154

  • Název nakladatele

    Transtech Publications

  • Místo vydání

    Zürich

  • Místo konání akce

    Praha

  • Datum konání akce

    13. 9. 2013

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku

    000348035600038