Lumped RF Model of MOSFET Gate Resistance for GHz+ Frequencies Enhancement of Compact BSIM MOSFET Model
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F15%3A00236413" target="_blank" >RIV/68407700:21230/15:00236413 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.15224/978-1-63248-077-4-22" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.15224/978-1-63248-077-4-22</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.15224/978-1-63248-077-4-22" target="_blank" >10.15224/978-1-63248-077-4-22</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Lumped RF Model of MOSFET Gate Resistance for GHz+ Frequencies Enhancement of Compact BSIM MOSFET Model
Popis výsledku v původním jazyce
This paper presents a lumped RF model of high voltage FET applicable for the frequency up to GHz range. Unlike the compact MOSFET model, the proposed solution contains not only parasitic capacitances and resistances but also parasitic inductance. The signal delay caused by relatively large device area including the parasitic resonance modeled by distributed RLC network is considered. The model is applicable in commercial SPICE simulators, e.g. Eldo, Spectre or HSpice.
Název v anglickém jazyce
Lumped RF Model of MOSFET Gate Resistance for GHz+ Frequencies Enhancement of Compact BSIM MOSFET Model
Popis výsledku anglicky
This paper presents a lumped RF model of high voltage FET applicable for the frequency up to GHz range. Unlike the compact MOSFET model, the proposed solution contains not only parasitic capacitances and resistances but also parasitic inductance. The signal delay caused by relatively large device area including the parasitic resonance modeled by distributed RLC network is considered. The model is applicable in commercial SPICE simulators, e.g. Eldo, Spectre or HSpice.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
The Third International Conference on Advances in Information Processing and Communication Technology - IPCT 2015
ISBN
978-1-63248-077-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
75-79
Název nakladatele
Institute of Research Engineers and Doctor
Místo vydání
3905 State Street, Suite 7-31, Santa Barbara
Místo konání akce
Roma
Datum konání akce
10. 12. 2015
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—