Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Dendritic Growth and its Dependence on Various Conditions

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F18%3A00326114" target="_blank" >RIV/68407700:21230/18:00326114 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Dendritic Growth and its Dependence on Various Conditions

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Printed circuit board (PCB) as a basic supporting structure of electronic devices is a significant reliability factor in electronic manufacturing. The miniaturization in electronics leads to lower gaps between pads with different electrical potential and that increases the probability of fault caused by dendritic growth. Not just the ambient environment has influence on electrochemical migration, but the surface finish, the solder mask, used solder and the cleaning process influences the dendritic growth and its composition and thus the reliability of PCBs and the final product. The results indicate, that the use of suitable soldering mask without any doubt hinders, though not fully the dendritic growth. An unexpected result is that the dendritic growth was also hindered when the flux residues were present. The lowest resistance against dendritic growth was discovered with organic solderability preservatives (OSP) surface finish, the highest with electroless nickel immersion gold (ENIG). The element analysis showed that the dendrites do not grow directly from the soldering pads. The surface finish therefore does not have a direct influence on dendrites, but rather on the chemical compound that is formed between the surface finish and the solder. These compounds are then prone to electrochemical migration.

  • Název v anglickém jazyce

    Dendritic Growth and its Dependence on Various Conditions

  • Popis výsledku anglicky

    Printed circuit board (PCB) as a basic supporting structure of electronic devices is a significant reliability factor in electronic manufacturing. The miniaturization in electronics leads to lower gaps between pads with different electrical potential and that increases the probability of fault caused by dendritic growth. Not just the ambient environment has influence on electrochemical migration, but the surface finish, the solder mask, used solder and the cleaning process influences the dendritic growth and its composition and thus the reliability of PCBs and the final product. The results indicate, that the use of suitable soldering mask without any doubt hinders, though not fully the dendritic growth. An unexpected result is that the dendritic growth was also hindered when the flux residues were present. The lowest resistance against dendritic growth was discovered with organic solderability preservatives (OSP) surface finish, the highest with electroless nickel immersion gold (ENIG). The element analysis showed that the dendrites do not grow directly from the soldering pads. The surface finish therefore does not have a direct influence on dendrites, but rather on the chemical compound that is formed between the surface finish and the solder. These compounds are then prone to electrochemical migration.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2018 41st International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)

  • ISBN

    978-3-319-73847-5

  • ISSN

    2161-2536

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    NEW YORK, NY

  • Místo konání akce

    Zlatibor, Serbia

  • Datum konání akce

    16. 5. 2018

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000449866600028