Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Wetting Balance Test of Tin-Based Solder Alloys: Effect of Oxide Removal on Wetting Performance

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F25%3A00384650" target="_blank" >RIV/68407700:21230/25:00384650 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121031" target="_blank" >https://doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121031</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121031" target="_blank" >10.1109/ISSE65583.2025.11121031</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Wetting Balance Test of Tin-Based Solder Alloys: Effect of Oxide Removal on Wetting Performance

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This study investigates the influence of the dwell time between the mechanical oxide removal from the surface of the molten solder by a scraper and the initiation of the wetting balance test on the wettability of copper. This prolongation could potentially influence soldering performance and has not been studied yet. Copper wire with a cross-sectional area of 1.5 mm2, rosin-based flux, and three different lead-free solder alloys (SnAg3Cu0.5,SnAg4, and SnCu3) were utilized for this experiment. Our findings revealed that the oxidation of the solder surface during the time delay of up to 10 minutes has a negligible effect on the wettability of the copper for all of the utilized alloys regardless of the flux application. However, when no flux was applied to the Cu wire, this time delay affected wetting behavior, particularly of SnAg4 and SnCu3 alloys, which exhibited heightened surface oxidation sensitivity in contrast to SnAg3Cu0.5. These results demonstrated that it is not necessary to extensively monitor the cleanliness of the molten solder surface during the wetting balance test, nor in processes like wave soldering.

  • Název v anglickém jazyce

    Wetting Balance Test of Tin-Based Solder Alloys: Effect of Oxide Removal on Wetting Performance

  • Popis výsledku anglicky

    This study investigates the influence of the dwell time between the mechanical oxide removal from the surface of the molten solder by a scraper and the initiation of the wetting balance test on the wettability of copper. This prolongation could potentially influence soldering performance and has not been studied yet. Copper wire with a cross-sectional area of 1.5 mm2, rosin-based flux, and three different lead-free solder alloys (SnAg3Cu0.5,SnAg4, and SnCu3) were utilized for this experiment. Our findings revealed that the oxidation of the solder surface during the time delay of up to 10 minutes has a negligible effect on the wettability of the copper for all of the utilized alloys regardless of the flux application. However, when no flux was applied to the Cu wire, this time delay affected wetting behavior, particularly of SnAg4 and SnCu3 alloys, which exhibited heightened surface oxidation sensitivity in contrast to SnAg3Cu0.5. These results demonstrated that it is not necessary to extensively monitor the cleanliness of the molten solder surface during the wetting balance test, nor in processes like wave soldering.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20501 - Materials engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2025

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)

  • ISBN

    979-8-3315-1217-0

  • ISSN

    2161-2536

  • e-ISSN

    2161-2528

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Institute of Electrical and Electronics Engineers

  • Místo vydání

    New York

  • Místo konání akce

    Budapešť

  • Datum konání akce

    14. 5. 2025

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    001585293500074