Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Transistors Based on the Nitride Semiconductor Heterostructures

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F25%3A00385971" target="_blank" >RIV/68407700:21230/25:00385971 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Transistors Based on the Nitride Semiconductor Heterostructures

  • Popis výsledku v původním jazyce

    GaN based depletion and enhancement mode high electron mobility transistors (HEMT) were prepared and studied with the AlGaN/GaN heterojunction as the main channel. The e-mode operation was achieved by the addition of the Mg doped p-GaN suppression layer above the AlGaN blocking layer. Prepared samples were characterised by the van der Pauw method, output and transfer, and CV measurements. Furthermore, the diffusion of Mg was studied using the SIMS method. Enhancement mode operation was successfully achieved for the p-GaN variant. Current collapse degradation was observed in positively biased samples. Mg diffusion was successfully stopped by the addition of the absorption layer of the undoped GaN under the p-GaN layer.

  • Název v anglickém jazyce

    Transistors Based on the Nitride Semiconductor Heterostructures

  • Popis výsledku anglicky

    GaN based depletion and enhancement mode high electron mobility transistors (HEMT) were prepared and studied with the AlGaN/GaN heterojunction as the main channel. The e-mode operation was achieved by the addition of the Mg doped p-GaN suppression layer above the AlGaN blocking layer. Prepared samples were characterised by the van der Pauw method, output and transfer, and CV measurements. Furthermore, the diffusion of Mg was studied using the SIMS method. Enhancement mode operation was successfully achieved for the p-GaN variant. Current collapse degradation was observed in positively biased samples. Mg diffusion was successfully stopped by the addition of the absorption layer of the undoped GaN under the p-GaN layer.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2025

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the International Student Scientific Conference POSTER – 29/2025

  • ISBN

    978-80-01-07422-0

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Fakulta elektrotechnická

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    Praha

  • Datum konání akce

    22. 5. 2025

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku