Transistors Based on the Nitride Semiconductor Heterostructures
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F25%3A00385971" target="_blank" >RIV/68407700:21230/25:00385971 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Transistors Based on the Nitride Semiconductor Heterostructures
Popis výsledku v původním jazyce
GaN based depletion and enhancement mode high electron mobility transistors (HEMT) were prepared and studied with the AlGaN/GaN heterojunction as the main channel. The e-mode operation was achieved by the addition of the Mg doped p-GaN suppression layer above the AlGaN blocking layer. Prepared samples were characterised by the van der Pauw method, output and transfer, and CV measurements. Furthermore, the diffusion of Mg was studied using the SIMS method. Enhancement mode operation was successfully achieved for the p-GaN variant. Current collapse degradation was observed in positively biased samples. Mg diffusion was successfully stopped by the addition of the absorption layer of the undoped GaN under the p-GaN layer.
Název v anglickém jazyce
Transistors Based on the Nitride Semiconductor Heterostructures
Popis výsledku anglicky
GaN based depletion and enhancement mode high electron mobility transistors (HEMT) were prepared and studied with the AlGaN/GaN heterojunction as the main channel. The e-mode operation was achieved by the addition of the Mg doped p-GaN suppression layer above the AlGaN blocking layer. Prepared samples were characterised by the van der Pauw method, output and transfer, and CV measurements. Furthermore, the diffusion of Mg was studied using the SIMS method. Enhancement mode operation was successfully achieved for the p-GaN variant. Current collapse degradation was observed in positively biased samples. Mg diffusion was successfully stopped by the addition of the absorption layer of the undoped GaN under the p-GaN layer.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2025
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the International Student Scientific Conference POSTER – 29/2025
ISBN
978-80-01-07422-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
Fakulta elektrotechnická
Místo vydání
Praha
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
22. 5. 2025
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—