Properties of Thin Films on 3D Printed Substrates
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F25%3A00389482" target="_blank" >RIV/68407700:21230/25:00389482 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121009" target="_blank" >https://doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121009</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121009" target="_blank" >10.1109/ISSE65583.2025.11121009</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Properties of Thin Films on 3D Printed Substrates
Popis výsledku v původním jazyce
The aim of this work is to evaluate the deposition process and properties of Aluminum thin films deposited by electromagnetic sputtering and evaporation on 3D printed substrates made using fused filament fabrication (FFF) with various materials (PLA- Polylactic Acid, PETG- polyethylene terephthalate glycol-modified, and recycled PET) and stereolitography (SLA). The structure and the properties of the thin film layers were evaluated via confocal microscopy, using resistance measurement and by measuring the attenuation and reflection of the passing electromagnetic wave. Non-contact measurement of the transmittance of the sample to the electromagnetic wave was used to indirectly measure the minimal and maximal impedance of the thin film layer.
Název v anglickém jazyce
Properties of Thin Films on 3D Printed Substrates
Popis výsledku anglicky
The aim of this work is to evaluate the deposition process and properties of Aluminum thin films deposited by electromagnetic sputtering and evaporation on 3D printed substrates made using fused filament fabrication (FFF) with various materials (PLA- Polylactic Acid, PETG- polyethylene terephthalate glycol-modified, and recycled PET) and stereolitography (SLA). The structure and the properties of the thin film layers were evaluated via confocal microscopy, using resistance measurement and by measuring the attenuation and reflection of the passing electromagnetic wave. Non-contact measurement of the transmittance of the sample to the electromagnetic wave was used to indirectly measure the minimal and maximal impedance of the thin film layer.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2025
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)
ISBN
979-8-3315-1217-0
ISSN
2161-2536
e-ISSN
2161-2528
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Název nakladatele
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo vydání
New York
Místo konání akce
Budapešť
Datum konání akce
14. 5. 2025
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
001585293500065