Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Simulation and SAT Based ATPG for Compressed Test Generation

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F13%3A00207553" target="_blank" >RIV/68407700:21240/13:00207553 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2013.56" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2013.56</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2013.56" target="_blank" >10.1109/DSD.2013.56</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Simulation and SAT Based ATPG for Compressed Test Generation

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper presents a novel ATPG algorithm directly producing compressed test patterns. It benefits both from the features of satisfiability-based techniques and symbolic simulation. The ATPG is targeted to architectures comprised of interconnected embedded cores, particularly to the RESPIN architecture. We show experimentally that the proposed ATPG significantly outperforms the state-of-the-art approaches in terms of the test compression ratio.

  • Název v anglickém jazyce

    Simulation and SAT Based ATPG for Compressed Test Generation

  • Popis výsledku anglicky

    This paper presents a novel ATPG algorithm directly producing compressed test patterns. It benefits both from the features of satisfiability-based techniques and symbolic simulation. The ATPG is targeted to architectures comprised of interconnected embedded cores, particularly to the RESPIN architecture. We show experimentally that the proposed ATPG significantly outperforms the state-of-the-art approaches in terms of the test compression ratio.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of 16th Euromicro Conference on Digital System Design

  • ISBN

    978-0-7695-5074-9

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    445-452

  • Název nakladatele

    IEEE Service Center

  • Místo vydání

    Piscataway

  • Místo konání akce

    Santander

  • Datum konání akce

    4. 9. 2013

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000337235200060