Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

On don't cares in test compression

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F14%3A00221781" target="_blank" >RIV/68407700:21240/14:00221781 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.07.006" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.07.006</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.07.006" target="_blank" >10.1016/j.micpro.2014.07.006</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    On don't cares in test compression

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Both test compression tools and ATPGs directly producing compressed test greatly benefit from don?t care values present in the test. Actually, presence of these don?t cares is essential for success of the compression. Contemporary ATPGs produce tests having more than 97% of don?t cares for large industrial circuits, thus high compression ratios can be expected. However, these don?t cares are placed in the test in an ?uninformed? way. There are many possibilities of constructing a complete test for a circuit, while the ATPG chooses just one particular, without respect to the subsequent compression process. Therefore, the don?t cares cannot be fully exploited. In this paper we show how severe this issue is. A novel ATPG algorithm directly producing compressed test patterns for the RESPIN decompression architecture is presented. Test don?t cares are placed in an informed way, so that they are maximally exploited by compression. We compare the results with several ways of uninformed don?t

  • Název v anglickém jazyce

    On don't cares in test compression

  • Popis výsledku anglicky

    Both test compression tools and ATPGs directly producing compressed test greatly benefit from don?t care values present in the test. Actually, presence of these don?t cares is essential for success of the compression. Contemporary ATPGs produce tests having more than 97% of don?t cares for large industrial circuits, thus high compression ratios can be expected. However, these don?t cares are placed in the test in an ?uninformed? way. There are many possibilities of constructing a complete test for a circuit, while the ATPG chooses just one particular, without respect to the subsequent compression process. Therefore, the don?t cares cannot be fully exploited. In this paper we show how severe this issue is. A novel ATPG algorithm directly producing compressed test patterns for the RESPIN decompression architecture is presented. Test don?t cares are placed in an informed way, so that they are maximally exploited by compression. We compare the results with several ways of uninformed don?t

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microprocessors and Microsystems

  • ISSN

    0141-9331

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    38

  • Číslo periodika v rámci svazku

    8

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    12

  • Strana od-do

    754-765

  • Kód UT WoS článku

    000347755200003

  • EID výsledku v databázi Scopus