Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

PBO-Based Test Compression

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F14%3A00219272" target="_blank" >RIV/68407700:21240/14:00219272 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2014.86" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2014.86</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2014.86" target="_blank" >10.1109/DSD.2014.86</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    PBO-Based Test Compression

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper presents a novel ATPG and test compression algorithm based on Pseudo-Boolean (PBO) optimization. Similarly to SAT-based ATPGs, the test for each fault is represented implicitly as a PBO instance. The optimization process solves the problem of maximizing the number of unspecified values in the test. A novel don’t care aware circuit-to-PBO conversion procedure is presented. The obtained unspecified values in the test are efficiently exploited in test compression. The produced compressed test sequence is suited for the RESPIN decompression architecture, thus for testing systems-on-chip. The presented experimental results show the efficiency and competitiveness of the proposed method.

  • Název v anglickém jazyce

    PBO-Based Test Compression

  • Popis výsledku anglicky

    This paper presents a novel ATPG and test compression algorithm based on Pseudo-Boolean (PBO) optimization. Similarly to SAT-based ATPGs, the test for each fault is represented implicitly as a PBO instance. The optimization process solves the problem of maximizing the number of unspecified values in the test. A novel don’t care aware circuit-to-PBO conversion procedure is presented. The obtained unspecified values in the test are efficiently exploited in test compression. The produced compressed test sequence is suited for the RESPIN decompression architecture, thus for testing systems-on-chip. The presented experimental results show the efficiency and competitiveness of the proposed method.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20206 - Computer hardware and architecture

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of 2014 17th Euromicro Conference

  • ISBN

    978-1-4799-5793-4

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    679-682

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Piscataway

  • Místo konání akce

    Verona

  • Datum konání akce

    27. 8. 2014

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000358409000094