Electrophoretic Deposition of Metal Nanoparticles with Reverse Micelles onto InP

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F09%3A00152146" target="_blank" >RIV/68407700:21340/09:00152146 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electrophoretic Deposition of Metal Nanoparticles with Reverse Micelles onto InP
Popis výsledku v původním jazyce
Nanolayers were deposited onto surface of n-type InP single crystal wafers by electrophoresis from reverse micelle colloid solution containing palladium nanoparticles. Two types of nanolayer were deposited, by applying the positive potential or by the negative potential on the InP wafer. Two tyúe of Schottky like diode were prepared on wafers with the two typw of nanolayers and studied by current-voltage characteristics
Název v anglickém jazyce
Electrophoretic Deposition of Metal Nanoparticles with Reverse Micelles onto InP
Popis výsledku anglicky
Nanolayers were deposited onto surface of n-type InP single crystal wafers by electrophoresis from reverse micelle colloid solution containing palladium nanoparticles. Two types of nanolayer were deposited, by applying the positive potential or by the negative potential on the InP wafer. Two tyúe of Schottky like diode were prepared on wafers with the two typw of nanolayers and studied by current-voltage characteristics

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)