Imaging in nanoscale using laser-plasma sources of extreme ultraviolet (EUV)

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21460%2F14%3A00309469" target="_blank" >RIV/68407700:21460/14:00309469 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00696-3_43" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00696-3_43</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00696-3_43" target="_blank" >10.1007/978-3-319-00696-3_43</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Imaging in nanoscale using laser-plasma sources of extreme ultraviolet (EUV)

Popis výsledku v původním jazyce

New developments in nanoscience and nanotechnology require nanometer scale resolution imaging tools and techniques such as an extreme ultraviolet (EUV) and soft X-ray (SXR) microscopy, based on Fresnel zone plates. In this paper, we report on applications of a desk-top microscopy using a laser-plasma EUV source based on a gas-puff target for studies of morphology of thin silicon membranes coated with NaCl crystals and samples composed of ZnO nanofibers.

Název v anglickém jazyce

Imaging in nanoscale using laser-plasma sources of extreme ultraviolet (EUV)

Popis výsledku anglicky

New developments in nanoscience and nanotechnology require nanometer scale resolution imaging tools and techniques such as an extreme ultraviolet (EUV) and soft X-ray (SXR) microscopy, based on Fresnel zone plates. In this paper, we report on applications of a desk-top microscopy using a laser-plasma EUV source based on a gas-puff target for studies of morphology of thin silicon membranes coated with NaCl crystals and samples composed of ZnO nanofibers.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/EE.2.3.20.0092" target="_blank" >EE.2.3.20.0092: Rozvoj výzkumného týmu BIO-OPT-XUV na FBMI ČVUT</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

X-Ray Lasers 2012

ISBN

978-3-319-00696-3

ISSN

0930-8989

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

269-276

Název nakladatele

Springer International Publishing

Místo vydání

Cham

Místo konání akce

Paris

Datum konání akce

11. 6. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—