Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterization of Charge Collection in Various Semiconductor Sensors with Energetic Protons and Timepix Device

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F11%3A00203960" target="_blank" >RIV/68407700:21670/11:00203960 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/NSSMIC.2011.6154765" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/NSSMIC.2011.6154765</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/NSSMIC.2011.6154765" target="_blank" >10.1109/NSSMIC.2011.6154765</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization of Charge Collection in Various Semiconductor Sensors with Energetic Protons and Timepix Device

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this work we use the Timepix chip as a multichannel tester for evaluation of properties of different semiconductor sensors. Different sensors bump-bonded to a Timepix readout chip and exposed to energetic protons with different incident angles and energies have been investigated. Data from each recorded proton track were processed individually. The extent of the charge sharing effect was evaluated along the proton track at different sensor depths. The level of charge sharing is affected by the time of charge collection which is related to the local intensity of the electric field in the sensor. This method can provide a 3D map of the electric field in the whole sensor volume.

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of Charge Collection in Various Semiconductor Sensors with Energetic Protons and Timepix Device

  • Popis výsledku anglicky

    In this work we use the Timepix chip as a multichannel tester for evaluation of properties of different semiconductor sensors. Different sensors bump-bonded to a Timepix readout chip and exposed to energetic protons with different incident angles and energies have been investigated. Data from each recorded proton track were processed individually. The extent of the charge sharing effect was evaluated along the proton track at different sensor depths. The level of charge sharing is affected by the time of charge collection which is related to the local intensity of the electric field in the sensor. This method can provide a 3D map of the electric field in the whole sensor volume.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference 2011

  • ISBN

    978-1-4673-0118-3

  • ISSN

    1082-3654

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    4715-4719

  • Název nakladatele

    Omnipress

  • Místo vydání

    Piscataway, New Jersey

  • Místo konání akce

    Valencia

  • Datum konání akce

    23. 10. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000304755604196