Tepelná stabilita plasmaticky deponovaných polysilanů
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28110%2F06%3A63504636" target="_blank" >RIV/70883521:28110/06:63504636 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Thermal stability of plasma deposited polysilanes
Popis výsledku v původním jazyce
A new method for studying thermal stability and concomitant chemical composition changes on thermal treatment of thin polymeric films is presented. It is applied to the study of thermal properties and modification of properties of polysilane-like materials with variable dimensionality prepared by radio frequency plasma enhanced chemical vapour deposition (CVD). Structure and microphysical properties of these materials, modified by progressive annealing, are examined by fluorimetry, FTIR absorption spectroscopy and XPS. In addition, the role, bonding conditions and structural environments of organic moieties as well as their influence on thermal degradation processes are examined. It is found that plasma polysilanes undergo three consecutive thermal degradation processes: Si-Si bond cleavage, elimination of side groups and final carbide formation. Presence of disorder and crosslinking stabilises the plasmatic material in comparison to classically prepared polysilanes. Nanostructural uni
Název v anglickém jazyce
Thermal stability of plasma deposited polysilanes
Popis výsledku anglicky
A new method for studying thermal stability and concomitant chemical composition changes on thermal treatment of thin polymeric films is presented. It is applied to the study of thermal properties and modification of properties of polysilane-like materials with variable dimensionality prepared by radio frequency plasma enhanced chemical vapour deposition (CVD). Structure and microphysical properties of these materials, modified by progressive annealing, are examined by fluorimetry, FTIR absorption spectroscopy and XPS. In addition, the role, bonding conditions and structural environments of organic moieties as well as their influence on thermal degradation processes are examined. It is found that plasma polysilanes undergo three consecutive thermal degradation processes: Si-Si bond cleavage, elimination of side groups and final carbide formation. Presence of disorder and crosslinking stabilises the plasmatic material in comparison to classically prepared polysilanes. Nanostructural uni
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
CD - Makromolekulární chemie
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Polymer Degradation and Stability
ISSN
0141-3910
e-ISSN
—
Svazek periodika
91
Číslo periodika v rámci svazku
12
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
2901-2910
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—